一、溫度影響精度的核心機制

金屬電阻的溫度效應

所有金屬的電阻值會隨溫度變化而改變（遵循電阻溫度系數規律）：溫度升高時，金屬內部原子熱運動加劇，電子散射增強，電阻增大；溫度降低時則相反。

對于 ER 探頭的敏感元件（金屬試片），即使沒有腐蝕發生，溫度波動也會導致電阻值變化，這種 “非腐蝕引起的電阻變化” 會被誤判為腐蝕信號，直接影響測量精度。

例如：鐵的電阻溫度系數約為 0.005/℃，若試片初始電阻為 100Ω，溫度波動 10℃時，電阻會變化約 5Ω，遠大于微米級腐蝕引起的電阻變化（通常僅微歐級）。

腐蝕速率本身的溫度依賴性

溫度升高會加速腐蝕化學反應（如電化學腐蝕的陽極溶解、陰極反應速率），導致實際腐蝕速率上升。若探頭無法區分 “溫度導致的電阻變化” 和 “真實腐蝕導致的電阻變化”，會進一步放大測量誤差。

二、溫度影響的量化程度

在未進行溫度補償的情況下，溫度對精度的影響程度可參考以下數據：

對于常見金屬（如碳鋼、不銹鋼），溫度每波動 1℃，可能導致0.1%~0.5% 的電阻測量誤差（取決于金屬材質的電阻溫度系數）。

在高溫環境（如 100~300℃）中，若溫度波動 ±10℃，未補償的 ER 探頭可能產生**±1%~±5% 的腐蝕速率測量誤差**，甚至可能掩蓋真實的腐蝕趨勢（如低溫時誤判為 “低腐蝕”，高溫時誤判為 “高腐蝕”）。

在極端溫度（如 > 400℃或 <-50℃）下，金屬的晶體結構或氧化行為可能發生變化，電阻 - 溫度關系偏離線性，此時未補償的誤差可超過**±10%**。

三、溫度補償后的影響程度

現代 ER 探頭通過內置溫度傳感器 電路 / 算法補償，可大幅降低溫度影響：

硬件補償：探頭內置鉑電阻（Pt100）或熱電偶，實時監測敏感元件的溫度，通過惠斯通電橋電路抵消溫度引起的電阻變化。

算法補償：基于金屬的電阻溫度系數，在數據處理中對測量值進行修正（如將實時電阻值折算為 “標準溫度下的等效電阻”）。